Esitelmät

 
Esitelmät
 
Raimo Kokkonen, The Reliability and Usability of Flow Measurements in Process Control, KCL MIKES TKK Miniseminar, 27.3.2006
 
Kari Niemi, Print-through - How to Measure It?, KCL MIKES TKK Miniseminar, 27.3.2006
 
On-line Monitoring of Process Waters by Raman Spectroscopy, KCL MIKES TKK Miniseminar, 27.3.2006
 
Heikki Isotalo, Tutkimustoiminta MIKES-metrologiassa, KCL MIKES TKK Miniseminar, 27.3.2006
 
Spectrophotometry Projects MIKES TKK Mittaustekniikka 2006, KCL MIKES TKK Miniseminar, 27.3.2006
 
Martti Heinonen, Kosteusmittausten haasteet, Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin -kurssi, 21.9.2006
 
Martti Heinonen, Mitä kalibrointitodistus kertoo?, Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin -kurssi, 21.9.2006
 
Jarno Ilme, Mitä päästökaupan tarkkailuvelvollisten tulee mitata?, Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin -kurssi, 21.9.2006
 
Paula Juuti, Mitä on huomioitava kaasupäästöjen virtausmittauksissa, Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin -kurssi, 21.9.2006
 
Arto Heikkinen, Päästöjen tarkkailuun liittyvät mittaustavat ja välineet, Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin -kurssi, 21.9.2006
 
Risto Suominen, Mittausten luotettavuuden varmistaminen, Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin -kurssi, 21.9.2006
 
Jukka Taitto, Teollisuusvaakojen vakaus ja kalibrointi, Luotettavuutta päästökauppaan liittyviin mittauksiin -kurssi, 21.9.2006
 
Nigel Fox, Optical Radiation Measurement Challenges: Now and the Future, part 1/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Nigel Fox, Optical Radiation Measurement Challenges: Now and the Future, part 3/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Terry Quinn, Impact of Metrology, part 1/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Terry Quinn, Impact of Metrology, part 2/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Terry Quinn, Impact of Metrology, part 3/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Terry Quinn, Impact of Metrology, part 4/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Heikki Isotalo, Overview of MIKES Metrology, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Erkki Ikonen, Optical Radiation Measurements at MIKES, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Guenter Wilkening, Challenges of Length Metrology, part 1/2, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Guenter Wilkening, Challenges of Length Metrology, part 2/2, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Nigel Fox, Optical Radiation Measurement Challenges: Now and the Future, part 2/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Nigel Fox, Optical Radiation Measurement Challenges: Now and the Future, part 4/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 17.11.2005
 
Heikki Seppä, Quantum Metrology - Closing the Quantum Triangle, part 2/2, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Richard Rusby, Challenges of Thermometry, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Martti Heinonen, Research on Thermometry and Mass Metrology, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Robert Kaarls, The Future of Metrology, Some Concluding Remarks, part 1/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Robert Kaarls, The Future of Metrology, Some Concluding Remarks, part 2/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Robert Kaarls, The Future of Metrology, Some Concluding Remarks, part 3/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Robert Kaarls, The Future of Metrology, Some Concluding Remarks, part 4/4, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Hans Andersson, Impact of Applied Metrology, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Robert Willet/Mikko Paalanen, Quantum Hall - what next?, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Antti Manninen, Research on Nanometrology in Electricity, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Heikki Seppä, Quantum Metrology - Closing the Quantum Triangle, part 1/2, Metrology Research Seminar, MIKES, 18.11.2005
 
Kari Riski, Massametrologia
 
Markku Rantanen, Painemetrologia
 
Heikki Isotalo, Metrologia yleisesti
 
Antti Manninen, Mittayksikköjärjestelmän fysikaaliset perusteet - sähkösuureet